Vítejte, dnes je
úterý
23.
duben
2024
Odborný časopis a portál zaměřený na vývoj a výrobu elektroniky 
Adeon v Holandsku, evropský distributor společnosti CIMS, zařadil do svého portfolia novou možnost provést finální optickou kontrolu hotové desky s pomocí AOI zařízení od CIMS. Finální inspekce Fi (Final Inspection) je volbou (add-on) k AOI systémům CIMS Phoenix.
Fi spolehlivě detekuje známé problémy na pozlacených částech desky, mědi a nepájivé masce. Kombinuje konečnou inspekci (Fi) s normální inspekcí AOI. Podporuje vzorkování i 100% inspekci. Pro finální inspekci používá samostatné uživatelské prostředí, přičemž nastavení je intuitivní a snadné.
Fi lze rozšířit o kontrolu rozměrů panelu (+2DM metrology), 2D měření elementů desky (+2CD metrology), měření výšky elementů desky (+3DH metrology), klasifikaci defektů na desce a virtuální mapování defektů (CDB/CDBIC conectivity) a virtuální verifikační systém (VVS connectivity).
Více informací zde
mklauz@dps-az.cz
