Máte problém s deskou či substrátem zvlněným teplem? Akrometrix to umí měřit a analyzovat

Americká společnost Akrometrix vyrábí zařízení pro měření a analýzy zvlnění a pnutí způsobené teplotou v polovodičovém a elektronickém průmyslu. Není tajemstvím, že desky plošných spojů, zejména větších rozměrů, se vlivem působení tepla zprohýbají, přičemž v desce, pouzdrech součástek i v pájených spojích vzniká velké pnutí.

Podobně by to mohlo být i u rozměrově menších předmětů, jako jsou wafer, die a substráty v polovodičovém průmyslu, kde ovšem i velmi malé hodnoty deformace či pnutí způsobují velké problémy. Deformace tvaru je také kritická u součástek, jako jsou například konektory.

Akrometrix provádí jednak sám měření a testy na zakázku, jednak dodává modulární řešení pro měření a analýzy v podobě zařízení TherMoiré® AXP 2.0. Pro měření zvlnění využívá techniky zvané „shadow moiré“, což je bezkontaktní optická metoda zjištění nerovnosti. V zařízení se za necelé dvě sekundy získá téměř 1,5 milionů bodů povrchu s přesně zjištěnými výškovými rozdíly. Měřený objekt může mít rozměry až 400 x 400 mm. Během měření se v zařízení mění teplotní profil, čímž se i vyvolá a mění zvlnění a pnutí. Naměřené hodnoty zvlnění se potom zpracovávají v navazujícím software.

Použitím zařízení TherMoiré® AXP 2.0 mohou technici získat lepší představu pro geometrické souvislosti mezi různými materiály, pouzdry, substráty a kompletními sestavami.

Více informací zde

mklauz@dps-az.cz