Testovací zařízení PCI Express 4.0 od Tektronixu podporuje sběrnice s výkonem 16 GT/s

Tektronix představil řadu vylepšení pro PCIe testování s podporou sběrnicí o výkonu16 GT/s a také demonstroval testovací systém architektury PCIe 4.0.

S rychlejšími datovými sběrnicemi PCIe 4.0 přichází i řada problémů. jež se musí zdolat. Mezi hlavní komplikace patří již tradiční ztrátovost dat a časová náročnost přenosu. Jak se při vývoji hardwaru stále více častěji ukazuje, základem každého projektu je standardizované měřící zařízení hrající klíčovou roli ve fázích odbugování, testů kompatibility a samotném potvrzeních správnosti návrhu. Všechny uvedené požadavky jsou splněny s osciloskopy DPO70000SX spojenými právě s testovací stanicí pro PCIe architektur 4.0 a 3.0.

Test odchozích dat PCIe 4.0

Konfigurace PCE4 u osciloskopů DPS/DPS70000SX a DPO/MSO70000DX umožňuje generovat specifický referenční signál o frekvenci 100 MHz, nutný k testování sběrnice PCIe architektury 4.0 libovolného typu (výkony 2,5; 5; 8 a 16 GT/s). Jiná vylepšení se řídí formou U.2 (původní SFF-8639) a rozšiřující optimalizace redukuje celkovou dobu testu o 30 %. Stejné hodnoty fakticky platí i u testování technologie PCIe 3.0 pomocí konfigurace PCE3.

Test příjmu dat pomocí PCIe 4.0

Tektronix nově také podporuje testování základních nastavení PCIe 4.0 a 3.1a. Testování probíhá za pomoci zařízení BERTScope,které detekuje zastoupení chybných bitů (kvůli porovnávání dat se tedy používá v kombinaci s jedním z osciloskopů metodou popsanou výše). Tektronix se společností Granite River Labs zajišťují, v souladu se standardizovanými metodami, komplexní automatické testování rozhraní a snižují čas nutný ke kalibraci sběrnice.

Více informací zde.