česky english Vítejte, dnes je středa 06. červenec 2022

Saki zlepšuje možnosti inspekce AOI s novým řešením v ose Z

DPS 3/2021 | Výroba - články
Autor: Ing. Milan Klauz

Saki Corporation, výrobce zařízení pro automatickou optickou a X-ray inspekci, inovoval své systémy série 3Di AOI. Nové řešení, které spočívá ve změně v ose Z, vede k rychlejší inspekci vysokých součástek, součástek s piny pro zatlačení do otvorů desky (press fit components) a osazených desek v testovacím přípravku (jigs, fixture).

obr (jpg)

Novinka, která souvisí s úpravou inspekčního zařízení v ose Z, umožňuje zvýšit rozsah měřené výšky ve 3D módu až na 40 mm. Maximální výška fokusu ve 2D se tak rovněž zvýšila na 40 mm.

Běžné AOI systémy s omezeným rozsahem práce v ose Z nemusí vždy identifikovat problémy, jakými jsou ohnuté vývody, nesprávné zarovnání a rovnoběžnost s daným povrchem.

Pokročilé algoritmy, které zahrnují vyhledání hran a rozeznávání rovin, zajišťují u inspekčních zařízení Saki 3Di Series s úpravou v ose Z vysokou přesnost a opakovatelnost.

Tak může zařízení 3Di Series provádět nejen inspekci nízkých součástek, ale také identifikovat a zjišťovat značení polarity vysokých součástek, jakými jsou například elektrolytické kondenzátory. S touto inovací je možné přesně detekovat chyby, naplno využívat možnosti optického rozpoznávání písmen (OCR − Optical Character Recognition), a dosáhnout tak vynikající kontroly kvality.

Odkazy:

[1] www.sakicorp.com/en/press/1534/

Partneři

eipc
epci
imaps
ryston-logo-RGB-web
mikrozone
mcu
projectik