česky english Vítejte, dnes je neděle 16. květen 2021

Saki posiluje možnosti AOI s novým řešením v ose Z

17.03. 2021 | Výroba - novinky
Autor: Milan Klauz
obr1.jpg

Saki Corporation, inovátor v oblasti automatické optické a X-ray inspekce, zavedl zlepšení u zařízení série 3Di AOI systémů pomocí změn v ose Z, které vede k rychlejší inspekci vysokých součástek a podobných záležitostí.

Novinka, která souvisí s úpravou v ose Z pro 3Di Series, umožní zvýšit rozsah měřené výšky ve 3D módu až na 40mm. Maximální výška fokusu ve 2D se tím také zvýšila na 40 mm.

Tak je možné pro zařízení 3Di Series provést inspekci nejenom nízkých součástek, ale také identifikovat a zjistit značení polarity vysokých součástek, jakými jsou například elektrolytické kondenzátory. S tímto zlepšením je možné přesně detekovat chyby a naplno využít OCR (optical character recognition), čímž se dosáhne vynikající kontroly kvality.

Běžné AOI systémy s omezeným rozsahem osy Z nemohou uspět v identifikaci některých defektů. Naproti tomu zařízení Saki 3Di Series s vylepšením v ose Z zajistí vysokou přesnost inspekce i její opakovatelnost, navíc díky velmi pokročilým algoritmům, které jsou v zařízení zabudované.

Více informací zde

mklauz@dps-az.cz

Partneři

eipc
epci
imaps
ryston-logo-RGB-web
mikrozone
mcu
projectik